基本信息
| 标准名称： | 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范 |
| 英文名称： | Semiconductor optoelectronic devices—Blank detail specification for power light-emitting diodes |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
半导体分立器件 >>
微波、毫米波二、三极管 |
| ICS分类： |
电子学 >>
光电子学、激光设备
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| 发布部门： | 工业和信息化部 |
| 发布日期： | 2009-11-17 |
| 实施日期： | 2010-01-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 工业和信息化部电子工业标准化研究所 |
| 归口单位： | 工业和信息化部电子工业标准化研究所 |
| 起草单位： | 工业和信息化部电子工业标准化研究所、北京新材料科技促进中心 |
| 起草人： | 赵英、阮军 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 2010-01-01 |
| 页数： | 13页 |
适用范围
主要规定了质量保证程序、试验/检验项目及方法等
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 微波 毫米波二 三极管 电子学 光电子学 激光设备
【英文标准名称】:Processmeasurementandcontroldevices-Generalmethodsandproceduresforevaluatingperformance-Evaluationreportcontent
【原文标准名称】:过程测量和控制装置.性能评定用一般方法和程序.评估报告内容
【标准号】:BSEN61298-4-2008
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2009-10-31
【实施或试行日期】:2009-10-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:自动化;内容;控制装置;控制设备;控制系统;电气工程;评估表;评估;工业流程测量;测量仪器;方法;观察;工作性能;电功率测量;过程;过程控制;报告;试验报告;测试
【英文主题词】:Automation;Contents;Controldevices;Controlequipment;Controlsystems;Electricalengineering;Evaluationsheet;Evaluations;Industrialprocessmeasurement;Measuringinstruments;Methods;Observation;Performanceinservice;Powermeasurement(electric);Process;Processcontrol;Reports;Testreports;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:N10
【国际标准分类号】:25_040_40
【页数】:18P;A4
【正文语种】:英语